TSY-35型塑料薄膜和薄片測厚儀
薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。

產品型號：TSY-35型
廠商性質：生產廠家
更新時間：2026-03-04
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TSY-35型塑料薄膜和薄片測厚儀
TSY-35型塑料薄膜和薄片測厚儀薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
產品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2、上下測量面為平面時，測量面對試樣施加的負荷為0.5N到1.0N之間。
3、上下測量面為凸/平面時，上測量面的曲率半徑在15-50（mm）時，其測量面對試樣施加的負荷為0.1N到0.5N之間。
4、測量精度
100um以內精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上精度3um

薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
產品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2、上下測量面為平面時，測量面對試樣施加的負荷為0.5N到1.0N之間。
3、上下測量面為凸/平面時，上測量面的曲率半徑在15-50（mm）時，其測量面對試樣施加的負荷為0.1N到0.5N之間。
4、測量精度
100um以內精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上精度3um薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
產品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2、上下測量面為平面時，測量面對試樣施加的負荷為0.5N到1.0N之間。
3、上下測量面為凸/平面時，上測量面的曲率半徑在15-50（mm）時，其測量面對試樣施加的負荷為0.1N到0.5N之間。
4、測量精度
100um以內精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上精度3um薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
產品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2、上下測量面為平面時，測量面對試樣施加的負荷為0.5N到1.0N之間。
3、上下測量面為凸/平面時，上測量面的曲率半徑在15-50（mm）時，其測量面對試樣施加的負荷為0.1N到0.5N之間。
4、測量精度
100um以內精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上精度3um

合作單位：

高分子增強復合防水片材不透水儀抗水壓滲透

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TSY-35型塑料薄膜和薄片測厚儀薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。

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薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。